艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機是一款創(chuàng)新的微型 IC 測試分類機,特別適合 CMOS 影像感應(yīng)組件 (CIS : CMOS Image Sensor) 量產(chǎn)所需,艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機可配合多種不同的封裝類型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、 μBGA、PGA及CSP封裝。艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機采用 Pick & Place 技術(shù),可從JEDEC夾盤來拾取IC,移動到測試位置,然后將測試后產(chǎn)品置于適當之 Tray 盤。
	     艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機能同時處理32個待測物進行平行測試,并提供50˚C~125˚C高溫測試選擇。不但能提高產(chǎn)量,提升生產(chǎn)良率,同時大幅降低測試成本。以下是長沙艾克塞普儀器設(shè)備有限公司為您介紹艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機的產(chǎn)品特性,如有疑問或者需要相關(guān)資料,請聯(lián)系長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司www.doleo.cn,可提供樣機和相關(guān)工程師上門演示溝通,聯(lián)系電話:0731-84284278 84284378。
	艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機產(chǎn)品特性:
	適合 CMOS 影像感應(yīng)組件量產(chǎn)需求
	可靠的高速 Pick&Place 分類機
	3x3 mm 微型 IC 處理能力
	浮動頭可有效率平衡測試壓力
	自動測試壓力學習
	IC 殘留檢測功能