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安徽省合肥市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)科學(xué)大道110號(hào)新材料園F9A號(hào)樓511室
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Keithley吉時(shí)利 參數(shù)化測試系統(tǒng)
名稱：系統(tǒng)集成
品牌：
型號(hào)：
簡介：S530 參數(shù)測試系統(tǒng) 適用于必須操作各種設(shè)備和技術(shù)的生產(chǎn)和實(shí)驗(yàn)室環(huán)境，提供業(yè)界領(lǐng)先的測試計(jì)劃靈活性、自動(dòng)化、探頭測試臺(tái)集成以及測試數(shù)據(jù)管理功能。Keithley 擁有超過 30 年的專業(yè)經(jīng)驗(yàn)，針對(duì)這些測試解決方案的設(shè)計(jì)向全世界的客戶提供各...
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S530 參數(shù)測試系統(tǒng)
適用于必須操作各種設(shè)備和技術(shù)的生產(chǎn)和實(shí)驗(yàn)室環(huán)境，提供業(yè)界領(lǐng)先的測試計(jì)劃靈活性、自動(dòng)化、探頭測試臺(tái)集成以及測試數(shù)據(jù)管理功能。Keithley 擁有超過 30 年的專業(yè)經(jīng)驗(yàn)，針對(duì)這些測試解決方案的設(shè)計(jì)向全世界的客戶提供各種標(biāo)準(zhǔn)和自定義參數(shù)化測試儀。
S530 功能
- 能輕松適應(yīng)新設(shè)備和測試要求
- 快速、靈活、交互式測試計(jì)劃制定
- 兼容于常見的全自動(dòng)探頭測試臺(tái)
- 提供 1kV、C-V、脈沖生成、頻率測量和低壓測量選項(xiàng)
- 兼容于 Keithley 的 9139A 型探頭卡適配器
- 支持重復(fù)使用現(xiàn)有的五英寸探頭卡庫
- 經(jīng)驗(yàn)證的儀器技術(shù)確保在實(shí)驗(yàn)室和工廠中實(shí)現(xiàn)高測量精度和可重復(fù)性
S535 多站點(diǎn)晶片驗(yàn)收測試系統(tǒng)
是一種大功率、高分辨率晶片級(jí)解決方案，用于跨制作工作流測試應(yīng)用中的模擬、電動(dòng)、混合信號(hào)和離散設(shè)備。與在一個(gè)站點(diǎn)上同時(shí)測試多臺(tái)設(shè)備的傳統(tǒng)異步并行測試方案不同，S535 的多站點(diǎn)并行測試方法在多個(gè)站點(diǎn)上同時(shí)測量多臺(tái)設(shè)備。這將探測器索引時(shí)間至少縮短 2 倍，從而提高制作生產(chǎn)率并降低測試成本。
S535 特點(diǎn)
- 在多站點(diǎn)并行或連續(xù)運(yùn)行中自動(dòng)執(zhí)行所有晶片級(jí)直流參數(shù)測試。觸摸一次探頭測試兩個(gè)或四個(gè)站點(diǎn)。
- 多達(dá) 64 根測試針：并行測試四個(gè)站點(diǎn)，每個(gè)站點(diǎn) 16 根針；并行測試兩個(gè)站點(diǎn)，每個(gè)站點(diǎn) 32 根針；連續(xù)測試一個(gè)站點(diǎn)，64 根針
- 高達(dá) 100 W 運(yùn)行：1 A 時(shí) 100 V；100 mA 時(shí) 200 V
- 在高速、多針、完全自動(dòng)的測試環(huán)境中 1 fA、10 nV 分辨率
- 基于 Linux 的 Keithley 測試環(huán)境 (KTE) 系統(tǒng)軟件兼容原有 Keithley 測試系統(tǒng)、支持輕松進(jìn)行測試開發(fā)和快速執(zhí)行。
- Keithley S530 型探頭卡基礎(chǔ)設(shè)施也支持原有的 S400 應(yīng)用
S540 參數(shù)測試系統(tǒng)
是一個(gè)全自動(dòng)化的 48 引腳參數(shù)測試系統(tǒng)，適用于高達(dá) 3kV 的功率半導(dǎo)體器件和結(jié)構(gòu)的晶片級(jí)測試。完全集成式 S540 已針對(duì)包括碳化硅 (SiC) 和氮化鎵 (GaN) 在內(nèi)的最新復(fù)合功率半導(dǎo)體材料進(jìn)行優(yōu)化，可以在單次測試觸摸中執(zhí)行所有高電壓、低電壓和電容測試。
S540 功能
- 在單次探頭觸摸中自動(dòng)在多達(dá) 48 個(gè)引腳上執(zhí)行所有晶片級(jí)參數(shù)測試，包括高電壓擊穿、電容和低電壓測量，而無需更改電纜或探頭卡基礎(chǔ)設(shè)施
- 在最高達(dá) 3kV 的條件下執(zhí)行晶體管電容測量，如 Ciss、Coss 和 Crss，而無需手動(dòng)配置測試引腳
- 在高速、多引腳、全自動(dòng)測試環(huán)境中實(shí)現(xiàn)低電平測量性能
- 基于 Linux 的 Keithley 測試環(huán)境 (KTE) 系統(tǒng)軟件支持輕松進(jìn)行測試開發(fā)和快速執(zhí)行
- 非常適合于過程集成、過程控制監(jiān)控和生產(chǎn)芯片分類中的全自動(dòng)或半自動(dòng)應(yīng)用
- 通過最大程度減少測試時(shí)間、測試設(shè)置時(shí)間和占地面積，降低擁有成本，同時(shí)實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室級(jí)測量性能
S500 集成式測試系統(tǒng)
是高度可配置的、基于儀器的系統(tǒng)，適用于器件、晶片或暗盒級(jí)半導(dǎo)體檢定。S500 集成式測試系統(tǒng)基于我們經(jīng)過驗(yàn)證的儀器，提供創(chuàng)新的測量功能和系統(tǒng)靈活性，并且根據(jù)您的需求可進(jìn)行擴(kuò)展。獨(dú)有的測量能力結(jié)合強(qiáng)大而靈活的自動(dòng)化檢定套件 (ACS) 軟件，提供市場上其他同類系統(tǒng)無法提供的廣泛應(yīng)用和功能。
S500 功能
- 全量程源測量單元 (SMU) 儀器技術(shù)規(guī)格，包括 subfemtoamp 測量，確保在幾乎任何設(shè)備上都能執(zhí)行廣泛的測量。
- 適用于內(nèi)存檢定、電荷泵、單脈沖 PIV（電荷陷阱分析）和 PIV 掃描（自加熱回避）的脈沖生成和超快 I-V。
- 利用支持 Keithley 系統(tǒng)的可擴(kuò)展 SMU 儀器，提供低或高通道數(shù)系統(tǒng)，包括并行測試。
- 適用于測試功率 MOSFET 和顯示驅(qū)動(dòng)器等測試器件的高電壓、電流和功率源測量儀器。
- 開關(guān)、探頭卡和布線保證系統(tǒng)完全適用于您的 DUT。
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